AEHR

Aehr Test Systems는 전 세계적으로 로직, 광학, 메모리 집적 회로의 번인 및 테스트를 위한 테스트 시스템을 제공한다. ABTS 및 FOX-P 계열 테스트 및 번인 시스템과 FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier, FOX DiePak Loader와 같은 제품을 제공한다. ABTS 시스템은 저전력 및 고전력 로직 장치, 그리고 다양한 일반 메모리 장치의 패키지 부품에 대한 생산 및 품질 테스트에 사용된다. FOX-XP 및 FOX-NP 시스템은 메모리, 디지털 신호 프로세서, 마이크로프로세서, 마이크로컨트롤러, 시스템 온 칩, 집적 광학 장치와 같은 복잡한 장치의 번인 및 기능 테스트에 사용되는 웨이퍼 접촉 및 개별 다이/모듈 테스트 및 번인 시스템이다. FOX-CP 시스템은 로직, 메모리, 광자 장치를 위한 단일 웨이퍼 컴팩트 테스트 및 신뢰성 검증 솔루션이다. WaferPak Contactor는 최대 300mm 웨이퍼를 테스트할 수 있는 독특한 풀 웨이퍼 프로브 카드를 포함하고 있어 IC 제조업체가 Aehr Test FOX 시스템에서 전체 웨이퍼의 테스트 및 번인을 수행할 수 있도록 한다. DiePak Carrier는 IC 제조업체가 베어 다이 및 모듈의 최종 테스트 및 번인을 수행할 수 있도록 하는 재사용 가능한 임시 패키지이다. Aehr Test Systems는 1977년에 설립되었으며 캘리포니아주 프리몬트에 본사를 두고 있다.